テストソケット

SiC（シリコンカーバイド）やGaN（窒化ガリウム）といった次世代パワー半導体で広く採用されている表面実装MOSFETディスクリートパッケージに対応するテストソケット。ケルビンコンタクト仕様により高精度な測定を実現し、高耐電圧、耐熱性、高電流性能を兼ね備えています。これにより、SiC/GaN MOSFETの厳格な信頼性試験（THBやHTRB）やバーンインテストに最適です。

TO-252/D-PAK,TO-263/D2-PAK,TO-263-7,TO-Leadlessなど多岐にわたるパッケージに対応したソケットを取り揃えています。